| 유형: | 테스트 머신 | 정확도 등급: | 높은 정확도 |
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| 정확성: | ---- | 애플리케이션: | 자동 테스트, 실험실 테스트, 실험실 테스트 |
| 맞춤형 지원: | OEM, ODM, OBM | 힘: | --- |
| 보호 등급: | IP56 | 전압: | 220V |
| 보증: | 1년 | 전력 소비: | 대략. 25W |
| 상대습도: | <80> | 주변 온도: | 0°C ~ +40°C |
| 전원공급장치: | 220V ± 22V,50Hz ± 2.5Hz | ||
| 강조하다: | 밸칸화 고무에 대한 변압 손실 검사기,다이렉트릭 상수 시험 장비,Q값 검사용 실험기 |
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다이렉트릭 손실 테스트 기계 다이렉트릭 상수 검사자 울칸화 고무 다이렉트릭 손실 탕젠트 테스트 장비 Q 값 검사기
전반적인 설명
다이렉트릭 손실과 다이렉트릭 상수는 전기 포르셀린, 장치 세라믹, 콘덴서와 복합 재료와 같은 다양한 세라믹 재료의 중요한 물리적 특성입니다.다이렉트릭 손실 접수 (tanδ) 와 다이렉트릭 상수 (ε) 를 측정함으로써, 이 특성에 영향을 미치는 다양한 요소에 대한 더 깊은 이해를 얻을 수 있으며, 따라서 재료 성능을 향상시키는 기초를 제공합니다.도구의 기본 원칙은 고 주파수 공명 방법에 기초, 다재다능하고 다목적 및 다 범위의 임피던스 테스트 기능을 제공합니다. 제어에 단일 칩 마이크로 컴퓨터를 활용하여,도구는 자동 Q 값 범위 전환 및 디지털 디스플레이와 같은 첨단 기술을 통합합니다.그것은 테스트 루프 내에서 잔류 인덕턴스를 최소화하는 개선된 튜닝 회로 디자인을 갖추고 있습니다.전통적인 Q-미터에서 발견되는 자동 진폭 안정화와 같은 기존 기술을 유지하면서이러한 개선은 새로운 기계를 보다 사용자 친화적으로 만들고 측정 결과의 더 높은 정확성을 보장합니다.기기는 고주파 인덕터 또는 공명 회로의 Q 값을 측정할 수 있습니다.인덕터의 인덕턴스 및 분산 용량; 인덕터의 인덕턴스 및 손실 대수; 전기 공학 재료의 고주파 다이 일렉트릭 손실;높은 주파수 회로의 효과적 병렬 및 일련 저항그리고 다른 매개 변수들 중에서 전송 선의 특성적 임피던스.이 도구는 과학 연구 기관에서 새로운 비 유기 비 금속 물질의 특성에 대한 응용 연구를 위해 이상적으로 적합합니다., 학술 기관, 제조 시설 및 유사한 조직. 기기는 다음 표준을 준수합니다: GB/T 5594.4-2015 *전자 부품에 대한 구조 세라믹의 특성을 테스트하는 방법4부: 다이엘렉트릭 상수 및 다이엘렉트릭 손실 탕전스의 시험 방법* 및 GB/T 1693-2007 *불칸화 고무의 다이엘렉트릭 상수 및 다이엘렉트릭 손실 탕전스의 결정*.
다이렉트릭 손실 테스트 기계 다이렉트릭 상수 검사자 울칸화 고무 다이렉트릭 손실 탕젠트 테스트 장비 Q 값 검사기
기술 사양
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Q-value Pass/Fail Preset 함수 미리 설정 범위 |
5~1000 |
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환경 온도 |
0°C ~+40°C |
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상대 습도 |
< 80% |
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전원 공급 |
220V ± 22V50 Hz ± 2.5 Hz |
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전력 소비 |
약 25W |
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고체물질 샘플 측정 지름 |
Φ38mm |
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고체물질 조절 가능한 샘플 두께 |
< 15mm |
담당자: Kaitlyn Wang
전화 번호: 19376687282
팩스: 86-769-83078748
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