Difraktometer sinar-X multifungsi gabungan AL-Y3500 adalah difraktometer sinar-X domestik berkinerja tinggi dan presisi tinggi di China, yang merupakan proyek yang dipilih melalui penawaran kompetitif oleh Komisi Pembangunan dan Reformasi Nasional. Ini diterapkan di berbagai bidang analisis struktur material. Bahan yang dapat dianalisis meliputi: bahan logam, bahan anorganik, bahan komposit, bahan organik, nanomaterial, bahan superkonduktor; dan keadaan material meliputi: sampel bubuk, sampel balok, sampel film tipis, sampel area mikro dan jumlah mikro.

Ini banyak diterapkan di bidang mineral lempung, bahan bangunan semen, debu lingkungan, produk kimia, obat-obatan, asbes, batuan dan mineral, polimer, dll.

Fitur:

1.Integrasi sempurna dari sistem perangkat keras dan sistem perangkat lunak memenuhi kebutuhan para sarjana dan peneliti di berbagai bidang aplikasi. 

2.Sistem pengukuran sudut difraksi presisi tinggi, memberikan hasil pengukuran yang lebih akurat.

3.Sistem kontrol generator sinar-X yang sangat stabil memastikan akurasi pengukuran ulang yang lebih stabil.

4.Berbagai aksesoris fungsional memenuhi kebutuhan tujuan pengujian yang berbeda.

5.Pengoperasian terprogram, desain struktural terintegrasi, mudah dioperasikan dan dengan tampilan instrumen yang lebih menarik.

6.Identifikasi satu atau lebih fase kristal dalam sampel yang tidak diketahui.

7.Analisis kuantitatif dari fase yang diketahui dalam sampel campuran.

8.Analisis struktur kristal (analisis struktur Rietveld).

9.Perubahan struktur kristal dalam kondisi yang tidak konvensional (pada suhu tinggi dan rendah).

10.Analisis sampel film tipis, termasuk fase kristal film, ketebalan film multilayer, kekasaran permukaan, dan kepadatan muatan.

11.Analisis sampel area mikro.

12.Tekstur bahan logam dan analisis tegangan.

Parameter Teknis