lSO 22007 Penguji Konduktivitas Termal Teknologi Sumber Pesawat Transien TPS Cepat
1. Pengenalan Produk
Penguji konduktivitas termal berdasarkan metode sumber panas bidang transien (TPS). Produk ini dikembangkan secara independen oleh Achievo Instrument, dengan kinerja pengujian yang stabil dan kemampuan pemrosesan dan analisis data yang kuat, dan dapat diterapkan pada pengukuran konduktivitas termal berbagai bahan.
Produk ini dikembangkan secara independen oleh Achievo Instrument, dengan kinerja pengujian yang stabil, kemampuan pemrosesan dan analisis data yang kuat, dan dapat diterapkan pada pengukuran konduktivitas termal berbagai bahan.
2. Objek pengukuran
Jenis bahan: logam, keramik, paduan, bijih, polimer, komposit, kertas, kain, busa (isolasi permukaan datar)
Bahan termal, pelat), poliuretan, fenolik, aldehida urin, wol mineral (wol kaca, wol batu, wol mineral), dinding semen, kaca
Papan komposit kuat CRC, papan polistiren semen, beton sandwich, papan komposit panel FRP, papan sarang lebah kertas, dll.
3. Parameter teknis
| Rentang tes |
0,001-300W /(m*K) |
| Mengukur kisaran suhu |
suhu ruangan -- 130ºC |
| Diameter pemeriksaan |
TIDAK. 1 pemeriksaan 7.5mm;Tidak. 2 pemeriksaan 15mm |
| Ketepatan |
0,001 |
| Waktu pengukuran |
5~160 detik |
| Catu daya |
AC 220V |
| kekuatan mesin |
<500W8. Kenaikan suhu sampel: <15ºC |
| Uji kekuatan sampel |
TIDAK. 1 daya probe 0<P<1 w;Tidak. 2 daya probe 0<P<20 w. |
| spesifikasi sampel |
Sampel probe No. 1 (≥ 7.5*7.5*3.75mm) Sampel probe No. 2 (≥15*15*7.5mm) |
4. Fitur instrumen
Rentang pengujian yang luas, kinerja pengujian yang stabil, pada instrumen serupa di dalam negeri, berada di level terdepan;
Pengukuran langsung, waktu pengujian sekitar 5-160 detik dapat diatur, dapat dengan cepat dan akurat mengukur konduktivitas termal, menghemat banyak waktu;
Hal ini tidak terpengaruh oleh resistensi termal kontak seperti pada metode statis;
Tidak diperlukan persiapan sampel khusus, dan tidak ada persyaratan khusus untuk bentuk sampel. Yang diperlukan untuk benda padat yang menggumpal hanyalah permukaan sampel yang relatif halus dengan panjang dan lebar keseluruhan paling sedikit dua kali diameter probe;
Pengujian sampel yang tidak merusak berarti sampel dapat digunakan kembali;
Probe dirancang dengan struktur heliks ganda dan menggabungkan model matematika eksklusif yang menggunakan algoritma inti untuk menganalisis dan menghitung data yang dikumpulkan pada probe;
Meja sampel dengan desain struktur yang cerdik, mudah dioperasikan, cocok untuk menempatkan sampel dengan ketebalan berbeda, sederhana dan indah;
Akuisisi data pada probe menggunakan chip akuisisi data yang diimpor, chip resolusi tinggi, dapat membuat hasil pengujian lebih akurat dan andal;
Sistem kontrol host menggunakan mikroprosesor THE ARM, yang lebih cepat daripada mikroprosesor tradisional, meningkatkan kemampuan analisis dan pemrosesan sistem, dan membuat hasil perhitungan lebih akurat;
Instrumen ini dapat digunakan untuk pengukuran parameter termal padatan kental, padatan pucat, padatan granular, gel, cairan, bubuk, pelapis, film, bahan isolasi dan sebagainya;
Antarmuka manusia-mesin yang cerdas, layar LCD berwarna, kontrol layar sentuh, pengoperasian yang mudah dan sederhana;
Kemampuan pemrosesan data yang kuat. Sistem komunikasi data dan pemrosesan laporan terkomputerisasi yang sangat otomatis.
Pesan Anda harus antara 20-3.000 karakter!
Indonesian
