lSO 22007 Rapid TPS Transient Plane Source Technology Wärmeleitfähigkeitstester
1. Produkteinführung
Wärmeleitfähigkeitstester basierend auf der Transient Plane Heat Source (TPS)-Methode. Das Produkt wurde unabhängig von Achievo Instrument entwickelt, verfügt über eine stabile Testleistung und starke Datenverarbeitungs- und Analysefähigkeiten und kann auf die Wärmeleitfähigkeitsmessung verschiedener Materialien angewendet werden.
Das Produkt wurde unabhängig von Achievo Instrument entwickelt, verfügt über eine stabile Testleistung, starke Datenverarbeitungs- und Analysefähigkeiten und kann für die Wärmeleitfähigkeitsmessung verschiedener Materialien eingesetzt werden.
2. Messobjekt
Materialtyp: Metall, Keramik, Legierung, Erz, Polymer, Verbundwerkstoff, Papier, Stoff, Schaum (Isolierung mit flacher Oberfläche)
Thermomaterial, Platte), Polyurethan, Phenol, Urinaldehyd, Mineralwolle (Glaswolle, Steinwolle, Mineralwolle), Zementwand, Glas
CRC-starke Verbundplatte, Zement-Polystyrol-Platte, Sandwichbeton, FRP-Verbundplatte, Papierwabenplatte usw.
3. Technische Parameter
| Testbereich |
0,001-300W /(m*K) |
| Temperaturbereich messen |
Raumtemperatur – 130 °C |
| Sondendurchmesser |
NEIN. 1 Sonde 7,5 mm;Nr. 2 Sonden 15 mm |
| Genauigkeit |
0,001 |
| Messzeit |
5~160 Sekunden |
| Stromversorgung |
Wechselstrom 220 V |
| Maschinenleistung |
< 500W8. Anstieg der Probentemperatur: <15 °C |
| Testen Sie die Probenleistung |
NEIN. 1 Sondenleistung 0<P<1 w;Nr. 2 Sondenleistung 0<P<20 W. |
| Musterspezifikationen |
Nr. 1 Sondenprobe (≥ 7,5*7,5*3,75 mm) Nr. 2 Sondenprobe (≥15*15*7,5 mm) |
4. Gerätefunktionen
Großer Testbereich, stabile Testleistung, in den inländischen ähnlichen Instrumenten, ist auf dem führenden Niveau;
Direkte Messung, Testzeit ca. 5–160 Sekunden einstellbar, kann die Wärmeleitfähigkeit schnell und genau messen, spart viel Zeit;
Es wird nicht wie bei der statischen Methode durch den Kontaktwärmewiderstand beeinflusst;
Es ist keine besondere Probenvorbereitung erforderlich und es bestehen keine besonderen Anforderungen an die Probenform. Für klumpige Feststoffe ist lediglich eine relativ glatte Probenoberfläche mit einer Gesamtlänge und -breite von mindestens dem Doppelten des Sondendurchmessers erforderlich;
Durch die zerstörungsfreie Prüfung von Proben können Proben wiederverwendet werden;
Die Sonden sind mit einer Doppelhelix-Struktur konzipiert und beinhalten ein exklusives mathematisches Modell, das einen Kernalgorithmus zur Analyse und Berechnung der an den Sonden gesammelten Daten nutzt;
Probentisch mit ausgeklügeltem Strukturdesign, einfach zu bedienen, geeignet zum Platzieren von Proben unterschiedlicher Dicke, einfach und schön;
Die Datenerfassung auf der Sonde mithilfe eines importierten Datenerfassungschips und die hohe Auflösung des Chips können die Testergebnisse genauer und zuverlässiger machen.
Das Steuerungssystem des Hosts verwendet den ARM-Mikroprozessor, der schneller als der herkömmliche Mikroprozessor ist, die Analyse- und Verarbeitungsfähigkeit des Systems verbessert und die Berechnungsergebnisse genauer macht;
Dieses Instrument kann zur Messung der thermischen Parameter von klumpigen Feststoffen, pastösen Feststoffen, körnigen Feststoffen, Gelen, Flüssigkeiten, Pulvern, Beschichtungen, Filmen, Isoliermaterialien usw. verwendet werden;
Intelligente Mensch-Maschine-Schnittstelle, Farb-LCD-Display, Touchscreen-Steuerung, einfache und unkomplizierte Bedienung;
Leistungsstarke Datenverarbeitungsfunktionen. Hochautomatisiertes computergestütztes Datenkommunikations- und Berichtsverarbeitungssystem.
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