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उत्पाद विवरण:
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| प्रकार: | परीक्षण मशीन | सटीकता वर्ग: | उच्च सटीकता |
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| शुद्धता: | / | आवेदन: | स्वत: परीक्षण |
| अनुकूलित समर्थन: | ओईएम, ओडीएम, ओबीएम | शक्ति: | - |
| संरक्षण वर्ग: | आईपी56 | वोल्टेज: | 220 वी |
| गारंटी: | 1 वर्ष | मापने की सीमा (मिमी): | 0-180 |
| संकेत सीमा: | ± 0.02 मिमी | मशीन वजन: | 30 किलोग्राम |
| मापने का बल: | 0.02μM | ||
| प्रमुखता देना: | परिशुद्धता ऑप्टिकल गेज प्रयोगशाला उपकरण,प्रक्षेपण ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज,प्रयोगशाला ऑप्टिकल परीक्षण मशीन |
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परिशुद्धता ऑप्टिकल गेज प्रोजेक्शन ऑप्टिकल उपकरण प्रयोगशाला ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज
उत्पाद वर्णन
एक प्रक्षेपण ऑप्टिकल गेज एक सटीक ऑप्टिकल यांत्रिक लंबाई मापने वाला उपकरण है। यह मापे जा रहे भाग के साथ एक मानक गेज ब्लॉक की तुलना करके किसी भाग के बाहरी आकार के सूक्ष्म-अंतर आयामों को मापता है। यह फैक्ट्री मेट्रोलॉजी रूम, वर्कशॉप कैलिब्रेशन स्टेशनों, या गेज, टूल और सटीक पार्ट्स वर्कशॉप में आमतौर पर इस्तेमाल किया जाने वाला सटीक उपकरण है। यह गेज ब्लॉक और उच्च परिशुद्धता बेलनाकार गेज ब्लॉक को कैलिब्रेट कर सकता है, और बेलनाकार और गोलाकार वर्कपीस के व्यास, नमूना वर्कपीस की मोटाई और बाहरी धागे के पिच व्यास की तुलना कर सकता है।
विशेषताएँ
यह वैक्स स्क्रीन तकनीक और एक संलग्न रीडिंग मैग्निफायर का उपयोग करता है, जो समान चमक और स्पष्ट छवि गुणवत्ता प्रदान करता है।
यह सीसीडी डिजिटल इमेज प्रोसेसिंग तकनीक का उपयोग करता है, जो उच्च रिज़ॉल्यूशन के साथ माप मूल्यों को सीधे डिजिटल रूप में प्रदर्शित करता है।
उपकरण उच्च माप सटीकता, स्थिर और विश्वसनीय डेटा प्रदान करता है, और छोटे सटीक भागों के निरीक्षण के लिए सुविधाजनक और त्वरित है।
कॉम्पैक्ट डिज़ाइन और छोटे आयाम इसे परिवहन करना आसान बनाते हैं।
उपकरण संचालन वातावरण:
कमरे का तापमान: 20°C ± 0.5°C, सापेक्ष आर्द्रता 60% से अधिक नहीं होनी चाहिए
कार्यक्षेत्र
सात-रिब कार्यक्षेत्र: मोटी गेज ब्लॉक और वर्कपीस को कैलिब्रेट करने के लिए
बॉल-रिब कार्यक्षेत्र: पतली गेज ब्लॉक और वर्कपीस को कैलिब्रेट करने के लिए
गेज ब्लॉक परिवहन रैक: मानक और गेज ब्लॉकों को पकड़ने और स्थानांतरित करने के लिए
चिकनी-सतह कार्यक्षेत्र: गोले के व्यास को मापने के लिए
परिशुद्धता ऑप्टिकल गेज प्रोजेक्शन ऑप्टिकल उपकरण प्रयोगशाला ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज
तकनीकी विशिष्टता
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नाम |
एलआर-ए417 |
एलआर-ए417एफ |
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मापने की सीमा (मिमी) |
0-180 |
0-180 |
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संकल्प |
0.2μm |
0.02μm |
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संकेत सीमा |
±0.02मिमी |
±0.02मिमी |
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संकेत त्रुटि |
±(0.05+0.0025A)μm |
(0.05 + 0.0025ए)μm |
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संकेत दोहराव |
ए μm में संकेतित मान है |
ए μm में संकेतित मान है |
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मापने का बल |
0.02μm |
0.02μm |
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शाफ्ट और जांच कैप के भीतरी व्यास को मापना |
1.20N±0.2N |
1.20N ±0.2N |
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बाहरी व्यास का मिलान |
φ6g6 |
φ6g6 |
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जांच टोपी के आंतरिक व्यास का मिलान |
φ6H7 |
φ6H7 |
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उपकरण का वजन |
30 किग्रा |
30 किग्रा |
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व्यक्ति से संपर्क करें: Kaitlyn Wang
दूरभाष: 19376687282
फैक्स: 86-769-83078748