1. विवरण:

परावैद्युत हानि और परावैद्युत स्थिरांक विभिन्न सिरेमिक जैसे विद्युत चीनी मिट्टी के बरतन, डिवाइस चीनी मिट्टी के बरतन, संधारित्र, और समग्र सामग्री आदि के महत्वपूर्ण भौतिक गुण हैं। परावैद्युत हानि स्पर्शरेखा (tanδ) और परावैद्युत स्थिरांक (ε) को मापकर, कोई परावैद्युत हानि और परावैद्युत स्थिरांक को प्रभावित करने वाले विभिन्न कारकों को और समझ सकता है, जो सामग्री के प्रदर्शन में सुधार के लिए एक आधार प्रदान करता है। उपकरण का मूल सिद्धांत उच्च-आवृत्ति अनुनाद विधि को अपनाना है, और यह एक सार्वभौमिक, बहुउद्देश्यीय और बहु-श्रेणी प्रतिबाधा परीक्षण प्रदान करता है। यह उपकरण के नियंत्रण के रूप में एक सिंगल-चिप कंप्यूटर का उपयोग करता है, जिसमें Q मान श्रेणी का स्वचालित रूपांतरण, संख्यात्मक प्रदर्शन और अन्य नई तकनीकें हैं। यह ट्यूनिंग सर्किट में सुधार करता है, ट्यूनिंग परीक्षण सर्किट के अवशिष्ट अधिष्ठापन को न्यूनतम तक कम करता है, और मूल Q मीटर में स्वचालित आयाम स्थिरीकरण तकनीक को बरकरार रखता है, जिससे नया उपकरण उपयोग करने में अधिक सुविधाजनक हो जाता है और माप मान अधिक सटीक होते हैं। उपकरण उच्च-आवृत्ति इंडक्टर्स या अनुनाद सर्किट के Q मान, इंडक्टर्स के अधिष्ठापन और वितरित समाई, कैपेसिटर की समाई और परावैद्युत हानि स्पर्शरेखा मान, विद्युत सामग्री की उच्च-आवृत्ति परावैद्युत हानि, उच्च-आवृत्ति सर्किट के प्रभावी समानांतर और श्रृंखला प्रतिरोधों, और उच्च परीक्षण आवृत्ति स्थितियों के तहत ट्रांसमिशन लाइनों की विशेषता प्रतिबाधा को माप सकता है। इस उपकरण का उपयोग अनुसंधान संस्थानों, स्कूलों, कारखानों और अन्य इकाइयों द्वारा अकार्बनिक गैर-धातु नई सामग्री के प्रदर्शन पर अनुप्रयोग अनुसंधान के लिए किया जाता है।
2. मानक:
GB/T 5594.4 - 1985

3.तकनीकी पैरामीटर