DZDR-S-Analysator für den Test der Leitfähigkeit der Wärmequellen mit schnellen thermischen Instrumenten in transienter Ebene

 DZDR-S Schnellthermisches Instrument / Übergangsflächenquelltechnologie Wärmeleitfähigkeitstester

DZDR-S schnelles thermisches Instrument / Übergangsflächenquelle Technologie Wärmeleitung

Produkteinführung:

Auf der Grundlage der Wärmequellenmethode für die vorübergehende Ebene (

Das Produkt wurde von Achievo Instrument unabhängig entwickelt, um die Leistung zu testen.

Stabile, starke Datenverarbeitungs- und Analysefähigkeiten können zur Messung der Wärmeleitfähigkeit verschiedener Materialien verwendet werden.

Technische Parameter:

1. Prüfbereich: 0,001-300 W /m*K

2Temperaturbereich: Raumtemperatur -- 130°C

3. Sonden Durchmesser: Nr. 1 Sonde 7,5 mm; Nr. 2 Sonde 15 mm

4Genauigkeit: 0.001

5Messzeit: 5 bis 160 Sekunden

6Stromversorgung: 220 V Wechselstrom

7 Maschinenleistung: < 500W8. Temperaturanstieg der Probe: < 15°C

9. Leistung der Prüfprobe P: Nr. 1 Sondenleistung 0

10 Probenbeschreibungen: Probennummer 1 (≥ 7,5*7,5*3,75 mm) Probennummer 2 (≥ 15*15*7,5 mm)

Anmerkung:Die Sonde Nr. 1 wird zur Messung von Material mit geringer Leitfähigkeit mit dünner Dicke verwendet. Ist die Probenoberfläche glatt und klebrig, kann die Probe in Überlagerung der Linien

Eigenschaften der Geräte:

Breiter Testbereich, stabile Prüfleistung, im inländischen ähnlichen Instrument, auf Spitzenniveau;

Direktmessung, Prüfzeit etwa 5-160s kann eingestellt werden, kann die Wärmeleitfähigkeit schnell und genau messen, was viel Zeit spart;

Es wird nicht durch den thermischen Kontaktwiderstand wie bei der statischen Methode beeinflusst;

Keine spezielle Probenvorbereitung, keine besonderen Anforderungen an die Probenform, blockierte Feststoffe benötigen nur eine relativ glatte Probenoberfläche und eine Gesamtlänge und Breite von mindestens dem doppelten Durchmesser der Sonde;

Nichtzerstörungsfähige Prüfung von Proben bedeutet, dass Proben wiederverwendet werden können.

Die Sonde verwendet die Doppelhelix-Struktur zur Konstruktion, kombiniert mit dem exklusiven mathematischen Modell, und verwendet den Kernalgorithmus zur Analyse und Berechnung der auf der Sonde gesammelten Daten.

Die Struktur der Probentafel ist klug, einfach zu bedienen, geeignet für die Platzierung von Proben unterschiedlicher Dicke und einfach und schön.

Die Datenerfassung auf der Sonde mit einem importierten Datenerfassungsschip, die hohe Auflösung des Chips, kann die Testergebnisse genauer und zuverlässiger machen.

Das Steuerungssystem des Hosts verwendet den ARM-Mikroprozessor, der schneller ist als der herkömmliche Mikroprozessor, verbessert die Analyse- und Verarbeitungsfähigkeit des Systems,und macht die Berechnungen genauer;

Das Gerät kann für die Messung von Blockfesten, Pastenfesten, Granulatfesten, Kolloiden, Flüssigkeiten, Pulver, Beschichtung, Film, Isolationsmaterialien und anderen Parametern der thermischen Eigenschaften verwendet werden.

Intelligente Mensch-Maschine-Schnittstelle, Farb-LCD-Display, Touchscreen-Steuerung, einfache und einfache Bedienung;

Starke Datenverarbeitungsfähigkeiten.Hoch automatisiertes Computerdatenkommunikations- und Berichtsverarbeitungssystem.