EDX-9000 Masa Tipi Vakumlu Tip Enerji Dağılımlı X-ışını Floresan Spektrometre XRF Alaşımlı Cevher Analiz Cihazı Kaya Analiz Cihazı XRF XRF

EDX-9000 masaüstü vakum tipi Enerji dağıtıcı X-ışını Floresans spektrometresi XRF alaşımı Cevher analizatörü Kaya analizatörü

1.Ürün teknik göstergeleri

2- Evet.Enstrüman donanımının ana konfigürasyonu

3Özel öğe analizi yazılım konfigürasyonu

3.1 Vakum analizi yazılımı ile özel element analizi

4. Örnek konfigürasyonu

4.1 Örnek odası vakumlanabilir.

4.2 Standart Örnek

5.Standart ekler

6. standart yapılandırma listesi

1Ürün teknik göstergeleri:

1.1Ürün adı ve modeli: Enerji dağıtıcı X-ışını Floresans Spektrometresi-EDX-9000 boşluk tYpe

1.2İş koşulları:

Çalışma sıcaklığı: 15-28°C

Nispi nem: 40% ~ 70%

Güç kaynağı: AC:220V ±5V

1.3Teknik performans ve göstergeler:

1.3.1Temel analizler sodyum (Na)'dan uranyuma (U) kadar değişir.

1.3.2Element içeriği analizi 1ppm ile 99.99% arasında değişir.

1.3.3Ölçme süresi: 60-200 saniye ( ayarlanabilir);

1.3.4Algılama sınırı 1PPM'e kadar;

1.3.7Enerji çözünürlüğü 129±5 elektron volttur.

1.3.8Sıcaklığa uyum aralığı 15°C'den 28°C'ye kadar;

1.3.9Güç kaynağı: AC 220V ± 5V (AC temizlenmiş ve düzenlenmiş güç kaynağı önerilir);

1.3.10Test alanı: metal, alaşım, metal olmayan, plastik, toprak, cevher ve diğer malzemeler;

1.4Ürün özellikleri

1.4.1EDX-9000, vakum çekimi ile donatılmıştır, vakum test sistemi ile donatılmıştır ve element test aralığı artırılmıştır.Özellikle Na'nın algılama sınırını, Mg, Al, Si ve diğer hafif elementler iyileştirilir ve doğruluk iyileştirilir.Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl gibi diğer elementlerin tekrarlanabilirlik istikrarı önemli ölçüde iyileştirilmiştir..

1.4.2 Genel yapılandırılmış tasarım, güzel bir enstrüman.

1.4.3 Birleşik Devletler'deki en son SDD dedektörünü kullanmak, sıvı nitrojen soğutması yerine elektrikli soğutma, küçük boyut, doğru veri analizi ve düşük bakım maliyeti.

1.4.4 Kendimiz tarafından geliştirilen SES sinyal işleme sistemi, zirve geri oranını etkili bir şekilde iyileştirmek ve ölçümü daha doğru hale getirmek için kabul edilir.

1.4.5 Tek tıklama otomatik testi, kullanımı daha kolay, daha uygun ve kullanıcı dostu arayüzü.

1.4.6 Farklı örneklere göre otomatik olarak değiştirilen sekiz tür optik yol düzeltme kollimasyon sistemi.

1.4.7 Çoklu radyasyona karşı sızıntı tasarımı, radyasyon koruma düzeyi benzer ürünlerin en yüksek seviyesine sahiptir.

1.4.8 Tüm makinenin ısı dağılımı performansını iyileştirmek ve X-ışını kaynağının çalışma güvenliğini sağlamak için entegre ısı dağılımı tasarımını optimize etmek.

1.4.9 Eşsiz hareket sıcaklığını izleme teknolojisi, ışın kaynağının güvenli ve güvenilir çalışmasını sağlar, hizmet ömrünü etkili bir şekilde uzatır ve kullanım maliyetini azaltır.

1.4.10 Çoklu alet aksesuarları koruma sistemi ve aletin daha istikrarlı ve daha güvenli çalışması için yazılım yoluyla izlenebilir.

1.4.11 Özel vakum test yazılımı, vakum yapılıp yapılmayacağı serbestçe seçilebilir, vakum derecesi gerçek zamanlı görüntülenir, standart pencere tasarımı, kullanışlı arayüz, kullanımı kolaydır.Tüm kontroller fare tıklaması arasında.

1.4.12 Makine, doğru, yüksek hızlı ve etkili veri aktarımını etkin bir şekilde sağlamak için USB2.0 arayüzünü benimser.

1.4.13 Eşsiz tamamen otomatik vakum sistemi, ışık elemanlarının algılama sınırını büyük ölçüde iyileştiren, ışık elemanının testine havanın etkisini tamamen korur.ve algılama aralığını genişletmek.

1.4.14 Entegre vakum odası tasarımı, test gereksinimlerini karşılayan vakum derecesini etkili bir şekilde sağlar ve ekipmanların bakımını artırır.

1.4.15 Vakum testi ve vakumsuz test arasındaki dönüşüm, müşterilerin kullanımı için basit ve uygundur; Aynı zamanda vakumu çıkarmak için kapağı açın, güvenli, basit ve pratik.

EDX-9000 masaüstü vakum tipi Enerji dağıtıcı X-ışını Floresans spektrometresi XRF alaşımı Cevher analizatörü Kaya analizatörü

2Enstrümanın donanım kısmı esas olarak yapılandırılmıştır.

2.1 SDD elektrikli soğutma dedektörü: (en son tip dedektör)

2.1.1. SDD elektrikli soğutma dedektörü; çözünürlüğü: 129±5e elektron volt

2.1.2Amplifier devre modülü: numunenin karakteristik röntgenini tespit eder; Sonda tarafından toplanan bilgileri alır ve daha da büyütür.

2.2 X-ışını uyarma cihazı ( ince berilyum cam ışık tüpü):

2.2.1Filament akımının maksimum çıkışı: 1mA;

2.2.25000 saatten fazla bir hizmet ömrü olan yarı kayıplı bir parçadır.

2.3 Yüksek basınçlı fırlatıcı:

2.3.1Maksimum çıkış voltajı: 50kV;

2.3.2En az 5kv kontrol edilebilir ayar;

2.3.3. İçsel voltaj aşırı yük koruması;

2.4 Entegre vakum sistemi

2.4.1 Son basınç: 6.7×10-2 Pa

2.4.2 Geometrik pompalama hızı: 60 L/dakika (50 Hz)

2.4.3 Düşük titreşim, düşük gürültü, kendi kendini koruma ve hızlı pompalama hızı ile mükemmel performanslı vakum pompa sistemi;

2.5 Çok Kanallı Analizör:

2.5.1 En fazla yol sayısı: 4096;

2.5.2 Sinyal güçlendirme işleme fonksiyonunu içerir;

2.5.3 Toplanan analog sinyalleri dijital sinyallere dönüştürmek ve işleme sonuçlarını ana bilgisayar yazılımına sağlamak;

2.65 Optik Yol Filtresi Modülü

2.6.1 Kollimatörü filtreyle birleştirin;

2.6.2 Röntgen ışınlı optik yolun iletim sürecindeki müdahaleyi, sinyalleri alan dedektörün doğruluğunu sağlamak için azaltmak;

2.7 Kollimatör otomatik anahtarlama modülü

2.7.1 Sekiz seçeneğe kadar, kalibreler 8-1 #, 8-2 #, 8-3 #, 6-4 #, 4-5 #, 1-6 #, 0.5-7 #,0.2-8#.

2.8 Filtre otomatik anahtarlama modülü

2.8.1 Yedi filtrenin serbest seçimi ve değiştirilmesi.

2.9 Kollimatör ve filtre ile serbest kombinasyon modülü

2.9.1 Kollimatör ve filtrelerin düzinelerce serbest kombinasyonu.

2.10 Çalışma eğrisi otomatik olarak modülü seçer

2.10.1 Çalışma eğrisini otomatik olarak seçin, manuel seçimi bırakın, insan işletim hatalarından kaçının, otomasyon ve zekayı daha mükemmel bir şekilde çıkarın.Operasyonu daha insani ve daha uygun hale getirmek.

3Özel bileşen analizi yazılımı.

3.1.1 Yazılım tanıtımı: Özellikle cevher tespiti (vakum kontrol fonksiyonu dahil), veri işleme için geliştirilmiştir.Toplanan spektrum sinyallerinin ölçüm sonuçlarının hesaplanması ve raporlanması.

3.1.2 Fonksiyon Tanımı

Özellikle madende bulunan SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, NaO, P2O5, CaO, MnO ve diğer bileşiklerin test edilmesi için ölçüm süresi 60-200 saniye ( ayarlanabilir).

İşleme arayüzü basit ve sezgisel, kullanımı kolaydır, profesyonel operasyon olmadan