EDX-9000 Masaüstü Vakum Tipi Enerji Dağıtıcı X-ışını Floresans Spektrometresi XRF Alaşım Cevher Analizörü Kaya Analizörü

EDX-9000 masaüstü vakum tipi Enerji dağılımlı X-ışını Floresan spektrometresi XRF alaşımı Cevher analizörü Kaya analizörü

1.ürün teknik göstergeleri

2..enstrüman donanımının ana konfigürasyonu

3. Özel element analizi yazılımı konfigürasyonu

3.1 Vakum analiz yazılımıyla özel eleman analizi

4. Örnek konfigürasyon

4.1 Numune haznesi vakumlanabilir

4.2 Standart Örnek

5.Standart ataşmanlar

6. standart konfigürasyon listesi

1. Ürün teknik göstergeleri:

1.1. Ürün adı ve modeli: Enerji dağılımlı X-ışını Floresan spektrometresi --EDX-9000 vakum Tevet

1.2. Çalışma Koşulları:

Çalışma sıcaklığı: 15-28°C

Bağıl nem: %40 ~ %70

Güç kaynağı: AC :220V ±5V

1.3. Teknik performans ve göstergeler:

1.3.1. Element analizi sodyumdan (Na) uranyuma (U) kadar değişir;

1.3.2. Eleman içerik analizi aralığı 1PPm ila %99,99 arasındadır;

1.3.3. Ölçüm süresi: 60-200 saniye (ayarlanabilir);

1.3.4. Algılama limiti 1PPM'ye kadardır;

1.3.7. Enerji çözünürlüğü 129±5 elektron volttur;

1.3.8. Sıcaklık adaptasyon aralığı 15°C ile 28°C arasındadır;

1.3.9. Güç kaynağı: AC 220V±5V (AC saflaştırılmış ve düzenlenmiş güç kaynağı önerilir);

1.3.10. Test alanı: metal, alaşım, metal olmayan, plastik, toprak, cevher ve diğer malzemeler;

1.4. Ürün özellikleri

1.4.1EDX-9000, vakum test sistemi ile donatılmış vakum ekstraksiyonuyla donatılmıştır ve eleman test aralığı artırılmıştır. Dedektör bir SDD test sistemi ile donatılmıştır, özellikle Na, Mg, Al, Si ve diğer hafif elementlerin tespit limiti iyileştirilmiş ve doğruluk artırılmıştır. Aynı zamanda Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl gibi diğer elementlerin tekrarlanabilirlik stabilitesi de önemli ölçüde iyileştirildi.

1.4.2 Genel yapılandırılmış tasarım, güzel enstrüman.

1.4.3 Amerika Birleşik Devletleri'ndeki en son SDD dedektörünün kullanılması, sıvı nitrojen soğutma yerine elektrikli soğutma, küçük boyut, doğru veri analizi ve düşük bakım maliyeti.

1.4.4 Kendimiz tarafından geliştirilen SES sinyal işleme sistemi, tepe noktası geri oranını etkili bir şekilde iyileştirmek ve ölçümü daha doğru hale getirmek için benimsenmiştir.

1.4.5 Tek tıklamayla otomatik test, kullanımı daha kolay, daha kullanışlı, daha kullanıcı dostu arayüz.

1.4.6 Farklı örneklere göre otomatik olarak değiştirilen sekiz çeşit optik yol düzeltme kolimasyon sistemi.

1.4.7 Çoklu anti-radyasyon sızıntısı tasarımı, radyasyondan korunma seviyesi benzer ürünlerin en yüksek seviyesine aittir.

1.4.8 Tüm makinenin ısı dağıtma performansını iyileştirmek ve X-ışını kaynağının çalışma güvenliğini sağlamak için entegre ısı dağıtma tasarımını optimize edin.

1.4.9 Benzersiz hareket sıcaklığı izleme teknolojisi, ışın kaynağının güvenli ve güvenilir şekilde çalışmasını sağlayarak hizmet ömrünü etkili bir şekilde uzatır ve kullanım maliyetini azaltır.

1.4.10 Çoklu cihaz aksesuarları koruma sistemi ve yazılım aracılığıyla izlenebilir, böylece cihaz daha istikrarlı ve daha güvenli çalışır.

1.4.11 Özel vakum test yazılımı, vakumun serbestçe seçilebilmesi, vakum derecesinin gerçek zamanlı gösterimi, standart pencere tasarımı, kullanıcı dostu arayüz, kullanımı kolay, tüm kontroller fare tıklaması arasındadır.

1.4.12 Makine, doğru, yüksek hızlı ve etkili veri iletimini etkili bir şekilde sağlamak için USB2.0 arayüzünü kullanır.

1.4.13 Benzersiz tam otomatik vakum sistemi, havanın hafif eleman testi üzerindeki etkisini tamamen koruyarak, hafif elemanların tespit limitini büyük ölçüde artırır ve tespit aralığını genişletir.

1.4.14 Entegre vakum odası tasarımı, test gerekliliklerini karşılayan vakum derecesini etkili bir şekilde sağlar ve ekipmanın bakım kolaylığını artırır.

1.4.15 Vakum testi ile vakumsuz test arasındaki dönüşüm müşterilerin kullanımı için basit ve kullanışlıdır; Aynı zamanda vakumu çıkarmak için kapağı açın, güvenli, basit ve pratiktir.

EDX-9000 masaüstü vakum tipi Enerji dağılımlı X-ışını Floresan spektrometresi XRF alaşımı Cevher analizörü Kaya analizörü

2. Cihazın donanım kısmı esas olarak yapılandırılmıştır

2.1 SDD elektrikli soğutma dedektörü: (en yeni dedektör türü)

2.1.1. SDD elektrikli soğutma dedektörü; Çözünürlük: 129±5e elektron volt

2.1.2. Amplifikatör devre modülü: numunenin karakteristik X-ışınını tespit edin; Sondanın topladığı bilgileri alın ve daha da genişletin.

2.2 X-ışını uyarım cihazı (ince berilyum pencereli ışık tüpü):

2.2.1. Maksimum filaman akımı çıkışı: 1mA;

2.2.2. Hizmet ömrü 5000 saatten fazla olan yarı kayıplı bir parçadır.

2.3 Yüksek basınçlı başlatıcı:

2.3.1. Maksimum voltaj çıkışı: 50kV;

2.3.2. Minimum 5kv kontrol edilebilir ayar;

2.3.3. Dahili voltaj aşırı yük koruması;

2.4 Entegre vakum sistemi

2.4.1 Nihai basınç: 6,7×10-2 Pa

2.4.2 Geometrik pompalama hızı: 60 L/dak (50Hz)

2.4.3 Düşük titreşim, düşük gürültü, kendini koruma ve hızlı pompalama hızıyla mükemmel performansa sahip vakum pompası sistemi;

2.5 Çok Kanallı Analizör:

2.5.1 Maksimum cadde sayısı: 4096;

2.5.2 Sinyal geliştirme işleme fonksiyonunu içerir;

2.5.3 Toplanan analog sinyalleri dijital sinyallere dönüştürün ve işleme sonuçlarını ana bilgisayar yazılımına sağlayın;

2.65 Optik Yol Filtre Modülü

2.6.1 Kolimatörü filtreye entegre edin;

2.6.2 Dedektör alma sinyallerinin doğruluğunu sağlamak için X-ışını optik yolunun iletim sürecindeki paraziti azaltın;

2.7 Kolimatör otomatik anahtarlama modülü

2.7.1 Sekize kadar seçenek, kalibreler 8-1 #, 8-2 #, 8-3 #, 6-4 #, 4-5 #, 1-6 #, 0.5-7 #,0.2-8#'dir.

2.8 Filtre otomatik anahtarlama modülü

2.8.1 Yedi filtrenin serbest seçimi ve değiştirilmesi.

2.9 Kolimatör ve filtrenin serbest kombinasyon modülü

2.9.1 Düzinelerceye kadar serbest kolimatör ve filtre kombinasyonu.

2.10 Çalışma eğrisi modülü otomatik olarak seçer

2.10.1 Çalışma eğrisini otomatik olarak seçin, manuel seçimi bırakın, insan işlemi hatalarını önleyin, otomasyonu ve zekayı daha mükemmel şekilde çıkarın, işlemi daha insani ve daha rahat hale getirin.

3. Özel bileşen analiz yazılımı

3.1.1 Yazılımın tanıtımı: Özellikle cevher tespiti (vakum kontrol fonksiyonu dahil), veri işleme, toplanan spektral sinyallerin ölçülen sonuçlarının hesaplanması ve raporlanması için geliştirilmiştir.

3.1.2 Fonksiyon Açıklaması

Özellikle cevherdeki SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, NaO, P2O5, CaO, MnO ve diğer bileşiklerin testi için ölçüm süresi 60-200 saniyedir (ayarlanabilir).

Operasyon arayüzü basit ve sezgiseldir, kullanımı kolaydır, profesyonel kullanıma gerek yoktur