AL-Y3000 difraktometre, malzeme araştırması ve endüstriyel ürün analizi için tasarlanmıştır.

1.Donanım sisteminin ve yazılım sisteminin mükemmel entegrasyonu, çeşitli uygulama alanlarındaki akademisyenlerin ve araştırmacıların ihtiyaçlarını karşılar.

2.Daha doğru ölçüm sonuçları sağlayan yüksek hassasiyetli difraksiyon açısı ölçüm sistemi.

3.TYüksek istikrarlı X-ışını jeneratör kontrol sistemi, daha istikrarlı tekrar ölçüm doğruluğunu sağlar.

4.Programlanmış keşif, entegre yapısal tasarım, kolay işleme ve daha çekici enstrüman görünümü.

X-ışını difraktometre, malzemelerin kristal yapısını ve kimyasal bilgilerini ortaya çıkarmak için kullanılan çok yönlü bir test aracıdır.

1.Bilinmeyen numunelerde bir veya daha fazla kristal fazın belirlenmesi

2.Karışık örnekte bilinen fazların nicel analizi

3.Kristal yapısı analizi

4.Metal malzemelerinin doku ve stres analizi

2Özellikleri:

X-ışını difraktometre hem doğal hem de sentetik inorganik veya organik malzemeleri analiz edebilir ve kil mineralleri, çimento inşaat malzemeleri,Çevre tozları, kimyasal ürünler, ilaçlar, asbest, kayalar ve mineraller, polimerler vb.

1.θ-θ geometrik optik tasarımına dayanarak, örnek hazırlanması ve çeşitli aksesuarların kurulumu için uygundur.

2.Metal seramik X-ışını tüplerinin uygulanması, difraktometrenin çalışma gücünü önemli ölçüde artırır.

3.Kapalı orantılı sayaç, dayanıklı ve bakımsız.

4.Silikon sürüklenme dedektörü üstün açı çözünürlüğü ve enerji çözünürlüğü ile övünür ve ölçüm hızı üç kattan fazla artırılır.

5.Çeşitli analiz amaçları için ihtiyaçları karşılayan geniş bir çeşitlilikte difraksiyon cihazı aksesuarlarıes.

6.Difraktometrenin çeşitli fonksiyonel aksesuarlarının otomatik tanımlanması. 

7.Modüler tasarım veya plug-and-play bileşenleri, operatörlerin optik sistemi kalibre etmek zorunda kalmadan difraktometrenin ilgili aksesuarlarını doğru bir şekilde kullanmalarını sağlar.

3Teknik parametreler