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Detalhes do produto:
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| Tipo: | Máquina de teste | Classe de Precisão: | Alta precisão |
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| Precisão: | / | Aplicativo: | Teste automático |
| suporte personalizado: | OEM, ODM, OBM | Poder: | ---- |
| Classe de Proteção: | IP56 | Tensão: | 220V |
| Garantia: | 1 ano | Faixa de comprimento de onda: | 650 nanômetro |
| Destacar: | Espectrômetro XRF,detector SDD de excitação monocromática múltipla,espectrômetro de laboratório XRF de tipo geral |
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DM2500 MMEDXRF Tipo Geral Luz-Elemento Médio Espectrômetro Múltipla Excitação Monocromática SDD Detector Espectrômetro XRF
Características
Tecnologia de análise de fluorescência de raios X dispersiva de energia de excitação multimonocromática (MMEDXRF)
Cristal duplamente curvado em espiral logarítmica (LSDCC) para difração e uso como alvo secundário
Detector SDD de alta taxa de contagem, alta resolução e alta transmissão (janela de grafeno)
Fonte de tubo de raios X com microfoco e janela fina de berílio com uma combinação otimizada de tensão, corrente e material alvo
Conformidade com Padrões
GB/T 3286.11
GB/T 4333,5
SIM/T 63.16
GB/T 24198
GB/T 24231
GB/T 34534
GB/T 176
JB/T 11145
JC/T 1085
etc.
Visão geral
O espectrômetro de elementos leves a médios DM2500 MMEDXRF - especificamente o espectrômetro de fluorescência de raios X dispersiva de energia de excitação multimonocromática DM2500 para elementos leves a médios (B – Zn) - é um espectrômetro XRF inovador desenvolvido pela empresa. Ele se baseia em décadas de experiência em pesquisa e na base dos analisadores da série DM existentes da empresa (incluindo analisadores XRF de enxofre/cálcio/ferro, analisadores multielementos e espectrômetros XRF gerais). Ele utiliza tecnologia de análise de fluorescência de raios X dispersiva de energia de excitação multimonocromática (MMEDXRF). Os principais componentes incluem: uma espiral logarítmica proprietária, cristal monocromador de germânio giratório com foco ponto a ponto desenvolvido internamente; um tubo de raios X de microfoco de 50 W, amplo ângulo de emissão e janela fina de berílio da KeyWay (com configurações otimizadas de alta tensão, corrente e material alvo); e um detector de raios X semicondutor SDD à temperatura ambiente da Ketek (Alemanha) apresentando altas taxas de contagem, alta resolução de energia e alta transmissão. Além disso, o instrumento incorpora tecnologias exclusivas – como um sistema óptico projetado especificamente para elementos de luz e um sistema de excitação multimonocromática utilizando uma combinação de métodos – que melhoram significativamente a sensibilidade e a relação pico-fundo. Ele utiliza um sistema de raios X de irradiação descendente e um mecanismo de rotação de amostra – tornando-o particularmente adequado para amostras de pó prensado – e oferece uma escolha entre sistemas de vácuo e purgados a gás, dependendo da aplicação. Estas características colocam o espectrômetro na vanguarda da tecnologia internacional. Testes comparativos com espectrômetros dispersivos de comprimento de onda em grande escala mostram que a maioria de suas métricas de desempenho correspondem ou se aproximam das dos instrumentos maiores, com algumas até mesmo superando-as. Ele supera produtos similares importados, custando apenas metade do preço, oferecendo uma relação preço/desempenho incomparável. Além disso, a conveniência do serviço pós-venda fornecido por um fabricante nacional é incomparável aos concorrentes estrangeiros. Além disso, o design robusto de blindagem do espectrômetro garante zero vazamento de radiação, atendendo aos requisitos de isenção de segurança contra radiação.
Aplicativos
O espectrômetro DM2500 MEDXRF para elementos leves e médios é adequado para medir conteúdo elementar em uma ampla gama de indústrias e materiais. Seja em setores como proteção ambiental, metalurgia, produtos químicos, geologia, mineração, eletrônica ou processamento de alimentos – e para tipos de amostras, incluindo pellets prensados, esferas fundidas ou líquidos – o DM2500 fornece medições precisas para quaisquer elementos na faixa de B(5) a Zn(30). Ele atende aos requisitos de praticamente todos os padrões para determinação elementar via espectrometria XRF, como padrões nacionais ou industriais: GB/T 176—2017 *Métodos para Análise Química de Cimento*; GB/T 3286.11-2022 *Métodos para Análise Química de Calcário e Dolomita – Parte 11: Determinação de Conteúdo de Óxido de Cálcio, Óxido de Magnésio, Dióxido de Silício, Óxido de Alumínio e Óxido de Ferro – Espectrometria de Fluorescência de Raios X Dispersiva de Comprimento de Onda (Método de Conta Fundida)*; GB/T 4333.5-2016 *Ferrossilício – Determinação de teores de silício, manganês, alumínio, cálcio, cromo e ferro – espectrometria de fluorescência de raios X dispersiva de comprimento de onda (método de esfera fundida)*; YS/T 63.16—2019 *Métodos de teste para materiais de carbono usados na produção de alumínio – Parte 16: Determinação do conteúdo elementar – Espectrometria de fluorescência de raios X dispersiva de comprimento de onda*; e GB/T 24198-2009 *Ferroníquel – Determinação de teores de níquel, silício, fósforo, manganês, cobalto, cromo e cobre – espectrometria de fluorescência de raios X dispersiva de comprimento de onda (método de rotina)*. Ele também atende aos padrões da indústria JC/T 1085—2008 *Analisador de fluorescência de raios X para cimento* e JB/T 11145—2011 *Espectrômetro de fluorescência de raios X*.
Caso os usuários tenham requisitos específicos em relação à medição de determinados elementos, a empresa pode modificar o sistema de excitação monocromática e/ou sistema de software para atender a essas necessidades específicas.
Características
Análise simultânea rápida – Os elementos alvo são analisados simultaneamente e rapidamente, com resultados de conteúdo normalmente disponíveis em dezenas de segundos.
Alta Precisão – Utiliza tecnologia avançada MMEDXRF e tecnologia central LSDCC. Ao selecionar a energia monocromática ideal e o método de geração com base nos elementos alvo, o instrumento atinge uma sensibilidade e relações pico-fundo significativamente melhoradas, proporcionando excelente repetibilidade, reprodutibilidade e precisão superior.
Irradiação descendente – Emprega um sistema de irradiação descendente de raios X que elimina o risco de o pó da amostra contaminar ou danificar o sistema de detecção, tornando-o particularmente adequado para amostras de pó prensado. Rotação de Amostras – Equipado com mecanismo de rotação de amostras, elimina a falta de homogeneidade da amostra causada pela presença de materiais extremamente duros e difíceis de pulverizar durante a preparação do pellet.
Estabilidade a longo prazo – Utiliza um analisador digital multicanal (MCA) de ganho variável com recursos como ajuste automático de PHA, correção de desvio e compensação de polarização, garantindo excelente estabilidade a longo prazo.
Ecologicamente correto e energeticamente eficiente – A proteção contra radiação atende aos padrões de isenção. O processo de análise é sem contato e não destrutivo; não gera poluição e não requer reagentes químicos ou combustão.
Facilidade de uso – Operação por tela sensível ao toque. Depois de colocar a amostra pulverizada e prensada no instrumento, basta pressionar o botão [Iniciar] para iniciar o processo – obtendo uma verdadeira operação com um toque.
Alta Confiabilidade – Apresenta um design integrado com um alto nível de integração de componentes, forte adaptabilidade ambiental, resistência robusta a interferências e alta confiabilidade.
Alta relação custo-benefício – Não requer cilindros de gás, resultando em custos operacionais e de manutenção extremamente baixos. Custando metade do preço de produtos estrangeiros comparáveis, oferece uma relação qualidade-preço excepcional.
DM2500 MMEDXRF Tipo Geral Luz-Elemento Médio Espectrômetro Múltipla Excitação Monocromática SDD Detector Espectrômetro XRF
Especificação Técnica
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Elementos Mensuráveis |
Qualquer elemento de B(5) a Zn(30) é opcional |
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Tubo de raios X |
Tensão: ≤50keV, Corrente: ≤2mA, Potência: ≤50W; Material alvo: Ag (Mo, Rh, Pd, Cr opcional) |
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Detector |
SDD, Área Efetiva: 20mm², Resolução: ≥123eV, Taxa de Contagem: ≤2Mcps, Janela de Entrada: Grafeno |
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Limite de detecção (300s) |
C: 2,0%, N: 1,0%, O: 0,5%, F: 0,15%, Na: 30 ppm, Mg: 20 ppm, Al: 10 ppm, Si/P/S/Cl: 2,0 ppm, K-Zn: 3,0 ppm |
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Faixa de medição |
3 vezes de limite de detecção ~ 99,99% |
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Limite de repetibilidade |
Está em conformidade com os requisitos de quase todos os padrões de espectrometria XRF para testes de elementos, incluindo GB/T 176—2017, GB/T 3286.11-2022, GB/T 4333.5-2016, YS/T 63.16—2019, GB/T 24198-2009, etc. |
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Tempo de medição do sistema |
1 ~ 999s, tempo recomendado: 300s |
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Atmosfera de Medição |
Sistema de gás autopurgante ou hélio |
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Condições Operacionais |
Temperatura ambiente: 5 ~ 40°C, Umidade relativa: ≤85% (a 30°C), Fonte de alimentação: 220V±20V, 50Hz, ≤200W |
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Dimensões e peso |
540mm×500mm×450mm, 35kg |
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Pessoa de Contato: Kaitlyn Wang
Telefone: 19376687282
Fax: 86-769-83078748