DM2402 ISO 20884 ASTM D7220 휴대용 마이크로 황 염소 분석기 MEDXRF ASTM D7039 ISO 15597 오일 추적 S Cl 함량 검사기

ISO 20884 ASTM D7220 휴대용 마이크로 황 염소 분석기 MEDXRF ASTM D7039 ISO 15597 석유 추적 S Cl 함량 검사기

전반적인 설명

DM2402 MEDXRF 휴대용 수황 및 염소 분석기, 또한 DM2402 단색 흥분 에너지 분산 X-선 형광 휴대용 수황 및 염소 스펙트모터로 알려져 있습니다우리 회사에서 개발 한 최첨단 도구입니다 X-선 형광 (XRF) 기술에서 수십 년의 연구 경험을 기반으로우리의 기존 DM 시리즈 XRF 황 분석기, 다중 요소 XRF 분석기,이 새로운 장치는 황과 염소를 위한 휴대용 XRF 추적 분석의 국제적으로 선도적인 발전을 나타냅니다..

이 장비는 표적 물질의 특징적인 X선 스펙트럼의 단색 집중을 통해 선택적 흥분을 가능하게 하는 첨단 기술과 구성 요소를 포함하고 있습니다.백그라운드 간섭을 효과적으로 줄이고 피크와 백그라운드 비율을 크게 향상시킵니다.또한 독자적인 광학 시스템과 우리 회사가 독립적으로 개발한 독특한 기술 솔루션을 갖추고 있습니다.이 황과 염소 분석기는 15W X선 튜브로 장착되어 0의 예외적으로 낮은 탐지 범위를 달성 할 수 있습니다..5ppm의 황과 0.3ppm의 엽록소 주변 대기 조건에서 뛰어난 반복성, 안정성,그리고 탄소와 염소의 흔적을 탐지하기 위한 신뢰할 수 있는 성능.

DM2402 MEDXRF 휴대용 수황 및 염소 분석기는 약 5.8 kg (배터리와 프린터 포함) 의 작고 가벼운 도구로 휴대성이 뛰어나다.가스가 필요없어, 진공, 또는 희석, 그것은 신속한 현장 검사 및 분석을 위해 이상적입니다.이 장치는 중국의 국가 V 및 VI 가솔린 및 디젤 연료의 황 및 염소 함량을 감지하기위한 현재 표준을 완전히 준수합니다., 내륙, 해안 및 심해 선박에 대한 연료 기름 황 함량 요구 사항. 황 측정에 대해 GB 252, GB17411, GB/T17040, ASTM D7220, ASTM D7039와 같은 표준을 충족합니다.SH/T0842, 및 ISO20884; 염소 측정에 대해서는 SH/T 0161, ASTM D4929 및 ISO15597을 준수합니다.

낮은 탐지 한계 (300s) (대기):

S: 0.5ppm, Cl: 0.3ppm

배터리와 프린터를 포함하면 5.2kg입니다.

중국의 국가 V 및 국가 VI 배출 규제에 따라 자동차 가솔린과 디젤에 대한 초저소황 검출 표준을 충족합니다.

내륙선, 해안선, 바다 항해선에 적용되는 초저황 연료유 테스트 기준을 충족합니다.

특징입양

단색 흥분 에너지 분산 X선 형광 (MEDXRF) 분석 기술

고분광효율의 로가리듬 회전형 회전형 하이퍼볼릭 표면 (LSDCC) 인공 결정

높은 계산 속도, 높은 해상도, 높은 전송 (그래핀 창) SDD 탐지기

전압, 전류 및 대상 물질의 최적의 조합을 가진 마이크로 포커스 얇은 베릴륨 창 X선 튜브

표준을 준수합니다

GB 252

GB17411

GB/T17040

ISO20884

ASTM D7220

ASTM D7039

SH/T0842

ISO 15597

ASTM D4929

SH/T0161

ISO 20884 ASTM D7220 휴대용 마이크로 황 염소 분석기 MEDXRF ASTM D7039 ISO 15597 석유 추적 S Cl 함량 검사기

단색 흥분 에너지 분산 X선 형광 (MEDXRF) 분석 기술

그림 1. MEDXRF 분석 기법의 스케마

The limit of detection (LOD) for an X-ray fluorescence spectrometer refers to the concentration corresponding to three times the standard deviation of the instrument background signal produced by the matrix blank.

방정식에서 Rb는 배경 계산 강도이고, N는 낮은 농도의 샘플의 계산 강도이며, T는 측정 시간입니다. 방정식 (1) 에서검출 한계는 감수성 (N - Rb) /C와 반비례적이며 배경의 정원 Rb에 직비례한다는 것을 알 수 있습니다.고정된 측정 시간에 검출 한도를 줄이기 위해서는 민감도를 높이고/또는 배경을 줄여야 합니다.

그림 2. 샘플의 XRF 스펙트럼

전통적인 XRF, EDXRF 또는 WDXRF, cannot achieve low detection limits is that the scattering of continuous bremsstrahlung radiation from the X-ray tube's emission spectrum results in a high continuous scattered background in the fluorescent spectrum.

단색 흥분 빔 에너지 분산 X선 형광 분석 (MEB-EDXRF) 은 X선 튜브 방출 스펙트럼을 단색화하기 위해 광학적 구성 요소를 사용하는 기술입니다.따라서 형광 스펙트럼의 연속 분산 배경을 크게 줄입니다.동시에, 그것은 소원한 일색 X선 선 또는 흥분에 사용되는 좁은 에너지 대역의 감소 또는 강도를 증가시키는 것을 최소화하여 감지 한도를 크게 낮추고 있습니다..전통적인 EDXRF에 비해 이 방법은 1~2배의 규모의 개선 효과를 달성하며, 높은 전력 WDXRF 시스템 (예를 들어 4kW) 을 능가한다.

고효율 분사 로그아리듬 회전형 회전형 점~점 집중형 인공 단색 결정

엑스레이 튜브 방출 스펙트럼을 단색화하는 데 필터 방법, 2차 타겟 방법, 분광 방법 등 많은 방법이 있습니다.이중 구부러진 결정 (DCC) 은 분광 방법으로 가장 좋은 단색화와 가장 높은 효율을 제공합니다..

분산은 브라그 법칙을 만족시켜야 합니다.

nλ = 2d sinθ (2)

그림 3. LSDCC에 의해 단색화 된 X선 튜브 방출 스펙트럼 및 특징적인 X선 사고 스펙트럼

즉, 방정식 (2) 을 만족시키는 파장과 함께 소스에서 방출되는 광선만이 분사되어 우수한 단색화로 이어진다. DCC는 점 소스를 초점화 할 수 있기 때문에,그것은 큰 수집 고체 각도를 제공 하 고 따라서 매우 높은 효율을 달성 합니다또한, 중점화 시 샘플에 아주 작은 빛의 반점이 생성됩니다.작은 면적의 반도체 탐지기, 예를 들어 Si-PIN 또는 SDD가 작은 표본 면적에서 대부분의 형광 X선을 캡처 할 수 있도록따라서 DCC는 탐지 효율성을 향상시킵니다.

그림 4. LSDCC 포인트에서 포인트 중점 원칙의 그림

DCC는 곡선 표면에 따라 반 집중 (Johann), 완전 집중 (Johansson), 로그아리듬 나선형으로 분류된다.반중심은 반사 조건을 부분적으로만 만족시킵니다., 반중심 DCC에서 가장 가난한 단색 X선 사건 스펙트럼을 초래합니다. 완전히 중점 DCC는 분사 조건을 완전히 만족시키고 점에서 점 중점화를 달성합니다.,완전히 집중하는 DCC의 제조 과정은 매우 복잡합니다. 굽는 것 외에도 R 모양의 곡선 표면을 형성하기 위해 정밀 밀링 프로세스가 필요합니다.Si 와 Ge 와 같은 자연적 인 결정 은 매우 부서지기 쉽고 깎기 어렵다자연 결정은 매우 좁은 스펙트럼 범위 내에서만 X선을 분산합니다.표적 물질에서 나오는 특징적인 X선의 일부만 분산되는 것을 유발하고 통합 분산 효율이 낮습니다..

DM2402는 로그리듬 스파이럴 이중 곡선 크리스탈 (LSDCC) DM30L을 사용 합니다. 이 제품은 우리 회사의 기술 전문가들이 2년간의 연구 끝에 개발한 특허 제품입니다.LSDCC는 분산 조건을 완전히 만족시킵니다.· 초점화라는 것은 엄밀히 점에서 점에 대한 것이 아니라 점에서 표면에 대한 것입니다.표면 면적은 매우 작고 일반적으로 약 2mm에 불과하므로 점에서 점으로 집중하는 것과 동등합니다.그것은 인공 DM 크리스탈을 사용 합니다. 그 통합 분사 효율은 자연 크리스탈보다 3 ~ 10 배 더 높습니다.크리스탈은 굽는 것 뿐이고 깎거나 쪼개는 것도 필요없습니다., 제조를 편리하게 합니다.

고해상도 (129 eV) 및 높은 계산 속도 (2 Mcps) SDD 검출기

비례 카운터, Si-PIN 검출기 및 실리콘 드리프트 검출기 (SDD) 를 포함하여 많은 유형의 X선 검출기가 있습니다. 검출 한도가 낮을수록탐지기의 해상도와 계산 속도가 높을수록그 중에서도 SDD는 가장 높은 해상도와 계산 속도를 제공하여 탐지기에 가장 좋은 선택입니다.

DM2402는 독일의 KETEK에서 제조한 VITUS H20 CUBE (최고 수준의) SDD 검출기로 장착되어 있으며, 해상도는 129 eV 미만이며, 효과적인 검출 영역은 20 mm2입니다.그리고 2 Mcps의 계산 속도.

그림 5. 실리콘 드리프트 감지기 (SDD)

마이크로 포커스 얇은 베릴륨 창 엑스레이 튜브 최적화 된 kV, mA 및 대상 재료 조합

샘플의 X선 흥분 에너지가 분석 대상의 흡수 가장자리에 가까워질수록 흥분 효율이 높습니다.DM30L 결정은 엑스레이 튜브 출력 스펙트럼에서 애노드 물질에서 방출되는 고 강도 특유의 X-선만을 분사합니다.따라서 적절한 안도 재료를 선택하면 가장 높은 흥분 효율을 달성 할 수 있습니다.튜브 전압 (kV) 및 전류 (mA) 의 최적 조합은 가장 높은 흥분 효율을 제공합니다.점에서 점에 초점을 맞추는 설계로 인해 마이크로 포커스 X-선 튜브를 사용해야합니다. 안도 물질의 특징적인 X-선 에너지가 매우 낮기 때문에,얇은 베릴륨 창 X선 튜브가 필요합니다..

DM2402는 15W 마이크로 포커스 Ti 또는 Ag 안오드를 사용하여 얇은 베릴륨 창 X선 튜브를 사용하여 kV 및 mA 설정을 최적화했습니다.

그림 6. 마이크로 초점 얇은 베릴륨 창 X선 튜브

적용 범위

그것은 가솔린, 디젤 및 연료유와 같은 석유 제품에서 수황 및 염소 함량의 흔적을 현장 신속한 검출 및 분석에 적용됩니다. 예를 들어,차량 가솔린에서 수황과 염소의 흔적을 검출하는 데 사용할 수 있습니다., 선박 디젤, 연료유, 그리고 순환 과정의 가솔린과 연료유.

또한 정유 공장, 시험 및 인증 기관, 석유 저장소, 다양한 석유 제품, 첨가물 및 가솔린과 같은 첨가물을 포함하는 윤활유의 실험실에도 적용됩니다.디젤중유, 잔류 연료유, 그리고 정제 과정에서 제품에서 수황과 염소의 흔적을 탐지합니다.

또한 수분 용액의 염소와 S와 Cl 요소를 다양한 산업에 걸쳐 모든 재료에서 동시에 측정하는 데 적용됩니다.

특징

신속하고 동시에 필요한 측정 요소는 높은 속도로 동시에 분석되며, 함수 결과는 일반적으로 몇 분 이내에 제공됩니다.

콤팩트하고 가벼운 무게는 약 5.2kg (배터리와 프린터 포함), 추가 장비의 필요 없이 대기 측정을 제공합니다.그것은 특히 현장에서 빠른 검출에 적합합니다..

오래 사용 가능성: 극히 낮은 전력 소모량으로 리?? 이온 배터리를 사용하며 오랫동안 지속적으로 사용할 수 있습니다.

낮은 탐지 한계 MEDXRF 기술과 LSDCC 핵심 기술을 사용하여 뛰어난 반복성과 재생 가능성으로 낮은 탐지 한계를 달성합니다.

장기 안정성 디지털 멀티 채널 기술을 활용하여 자동 PHA 조정 및 오차 수정 기능을 갖추고 있으며 장기 안정성이 우수합니다.

환경 보호 및 에너지 절감 방사선 보호는 면제 요건을 충족합니다. 분석 중에 샘플에 접촉하거나 손상되지 않으며 오염이 발생하지 않습니다.화학 반응 물질이 필요하지 않습니다., 그리고 연소가 필요하지 않습니다.

사용하기 쉬운 터치 스크린 작동. 단순히 샘플 컵에 샘플을 배치하고 기기에 삽입합니다.그냥 [시작] 버튼을 누르면 모든 것이 완료됩니다 - 정말 한 클릭 동작을 달성.

높은 적응력 - C / H 비율의 자동 수정, 매트릭스 효과에 대한 수정, 다양한 샘플에 적합합니다. 작업 곡선의 자동 전환, 넓은 측정 범위에 적합합니다.

높은 신뢰성 - 통합 설계, 높은 수준의 통합, 강력한 환경 적응력, 강력한 반 간섭 능력 및 높은 신뢰성.

높은 비용 효율성 - 가스, 진공 또는 희석이 필요하지 않습니다. 운영 및 유지 보수 비용은 매우 낮습니다. 해외에서 비슷한 제품의 절반 가격으로,그것은 정말 비용 효율적인 제품입니다.

ISO 20884 ASTM D7220 휴대용 마이크로 황 염소 분석기 MEDXRF ASTM D7039 ISO 15597 석유 추적 S Cl 함량 검사기

기술 사양