정밀 분석 실험실 테스트 기계를 갖춘 DM2500 MMEDXRF 경량 원소 분광계

DM2500 MMEDXRF 경중간 원소 분광계

설명:

다중 단색 여기를 사용하여 피크 후방 산란 비율을 달성하고 원소(B~Zn) 측정을 가능하게 합니다.

그 정확도는 대형 파장 분산 분광계의 정확도와 비슷합니다.

표준 모델은 시멘트 산업을 위해 설계되었습니다.

혹은 약간 변형하여 다양한 산업에 적용할 수도 있습니다.

적응:

다색 단일빔 여기 에너지 분산형 X선 형광(MMEDXRF) 분석 기술

대수 나선형 쌍곡면 굽은 결정(LSDCC)은 회절을 달성하고 2차 표적 역할을 합니다.

고계수율, 고분해능, 고투과율(AP3.3 창) SDD 검출기

전압, 전류 및 타겟 물질의 완벽한 조합을 갖춘 미세 초점 얇은 베릴륨 창 X선관 소스

기준

GB/T176

JB/T11145

JC/T1085

디이자형설명:

DM2500MMEDXRF 경중원소 분광기는 DM2500 다단색 여기 에너지 분산형 X선 형광 광중원소(B-Zn) 분광기로도 알려져 있으며 X선 형광 분광법에 대한 수십 년간의 연구 경험을 바탕으로 당사가 개발한 새로운 XRF 분광기입니다. 당사의 독자적인 DM 시리즈 X선형광황, 칼슘, 철분석기기, X선형광다원소 분석기기, X선형광분광계 등을 통합한 혁신적인 XRF분광기입니다. MMEDXRF(Multiple Monochromatic Excitation Energy Dispersive X-Ray Fluorescent) 분석 기술을 채택하고 있습니다. 단색결정 등의 주요 부품은 당사가 개발한 대수나선형 회전 점대점 포커싱 게르마늄 단색결정을 사용하고, X선관은 KeyWay사에서 생산하는 50W 미소초점 대방사각 박베릴륨창 X선관을 사용하여 고전압, 전류, 타겟물질이 최적으로 조합되어 있습니다. X선 검출기는 독일 Ketek사의 SDD 반도체 X선 검출기를 사용하여 높은 계수율, 높은 에너지 분해능, 상온 투과율이 높습니다. 또한, 당사의 독자적인 지적재산권을 활용하여 광소자별 광학계의 독자적인 기술과 다중 단일 단색 여기계의 조합을 채택하고 있습니다. 이는 장비의 감도와 피크 대 배경 비율을 크게 향상시킵니다. 또한 분말 펠릿 시료에 특히 적합한 X선 하향 조사 시스템과 시료 회전 장치를 채택하고 용도에 따라 진공 시스템 또는 자체 팽창 시스템 중에서 선택할 수 있습니다. 따라서 이 분광계는 국제적인 선두 수준에 도달했습니다. 장파장 분산 분광계를 사용한 비교 테스트에서 대부분의 성능 지표는 장파장 분산 분광계의 성능 지표에 가깝거나 도달하며 일부는 이를 초과하기도 합니다. 성능 지표는 수입 유사 제품보다 우수하고 가격은 수입 유사 제품의 절반에 불과하며 가격 대비 성능 비율이 타의 추종을 불허합니다. 또한, 국내 기업의 애프터 서비스 편의성은 외국 기업과 비교할 수 없습니다. 그리고 분광계의 뛰어난 차폐 보호 설계로 방사선 누출이 발생하지 않아 방사선 면제 요구 사항을 충족합니다.

응용

DM2500MEDXRF 경중원소 분광계의 표준 모델은 시멘트 산업을 위해 특별히 설계 및 제조되었으며 시멘트 원료, 클링커 및 기타 재료의 함량 측정에 사용할 수 있습니다. 이는 국가 표준 GB/T 176—2017 "시멘트에 대한 화학 분석 방법" 및 업계 표준 JC/T1085—2008 "시멘트에 대한 X선 형광 분석기" 및 JB/T11145-2011 "X선 형광 분광계"의 관련 요구 사항을 준수합니다.

DM2500MEDXRF 경중원소 분광기는 시멘트 산업뿐만 아니라 다양한 산업의 모든 물질의 함량 측정에도 적용할 수 있습니다. 표준모델은 시멘트 산업을 위해 특별히 설계, 제작되었으나 사용자가 요구하는 측정요소가 B(5)~Zn(30) 범위 내라면 일반적으로 대부분의 경우 표준모델을 직접 측정에 사용할 수 있다. 귀하의 사용자가 특정 요소의 측정에 대해 특별한 요구 사항을 갖고 있는 경우 당사는 사용자의 요구 사항에 따라 단색 여기 시스템 및/또는 소프트웨어 시스템을 수정하여 측정 요소에 대한 사용자 요구 사항을 충족할 수 있습니다.

형질

신속하고 동시성 - 필요한 측정 요소가 고속으로 동시에 분석되며, 일반적으로 수십 초 내에 내용 결과를 확인할 수 있습니다.

높은 정확도 - 첨단 MMEDXRF 기술과 LSDCC 핵심 기술을 활용하여 측정 대상 요소에 따라 단색광의 에너지와 단색광 생성 방법을 선택합니다. 이를 통해 장비의 감도와 피크 대 배경 비율이 크게 향상되어 뛰어난 반복성과 재현성은 물론 매우 높은 정확도가 보장됩니다.

하향 조사 - X선 하향 조사 시스템을 채택하여 시료 분말 오염 및 검출 시스템 손상 가능성을 제거합니다. 특히 시멘트, 클링커 등의 분말 시료에 적합합니다.

샘플 스핀 - 샘플 스핀 장치를 사용하면 정제 샘플에 단단한 물질이 존재하여 분쇄하기 어렵게 만드는 샘플의 불균일성이 제거됩니다.

장기 안정성 - 자동 PHA 조정, 드리프트 보정, 편차 보정 등의 기능을 갖춘 가변 게인 디지털 다중 채널을 활용하여 탁월한 장기 안정성을 나타냅니다.

환경 보호 및 에너지 보존 - 방사선 보호는 면제 요건을 충족합니다. 분석하는 동안 시료에 대한 접촉이나 손상이 없고 오염이 발생하지 않으며 화학 시약이 필요하지 않으며 연소도 필요하지 않습니다.

사용하기 쉬움 - 터치스크린 작동. 샘플 분말과 정제를 기기에 넣은 후 [시작] 버튼만 누르면 모든 작업이 완료됩니다. 진정한 원버튼 작동이 가능합니다.

높은 신뢰성 - 통합 설계, 높은 수준의 통합, 강력한 환경 적응성, 강력한 간섭 방지 능력, 높은 신뢰성.

높은 비용 효율성 - 가스 실린더가 필요 없으며 운영 및 유지 관리 비용이 매우 낮습니다. 가격은 해외 유사한 제품의 절반입니다. 정말 가성비 좋은 제품입니다.

첨단 기술

다색 단일빔 여기 에너지 분산형 X선 형광(MMEDXRF) 분석 기술

기존 XRF, 특히 EDXRF가 초경량 원소의 정확한 측정을 달성할 수 없는 주된 이유 중 하나는 X선 튜브의 방출 스펙트럼에서 연속 브레름스트랄렁 산란이 X선 형광 스펙트럼에서 높은 연속 산란 배경으로 이어지기 때문입니다. 또한, 원소의 원자 번호가 낮을수록 형광 수율도 낮아집니다. 상대적으로 낮은 형광 광선 강도는 더 높은 배경에 묻혀버릴 것입니다.

MEXAF(단색 여기빔 에너지 분산형 X선 형광) 분석 기술에는 광학 장치를 사용하여 X선관의 방출 스펙트럼을 단색화함으로써 형광 스펙트럼의 연속 산란 배경을 크게 줄이는 기술이 포함됩니다. 동시에, 필요한 여기 X선의 단색 선 또는 좁은 에너지 대역의 강도를 최소한으로 줄이거나 심지어 증가시킬 수 있으므로 측정된 요소의 X선 형광 스펙트럼의 피크-배경 비율이 크게 향상되고 초경량 요소의 정확한 측정이 가능해집니다. 개략도는 그림 1에 나와 있습니다.

기술적인 매개변수