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उत्पाद विवरण:
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| प्रकार: | परीक्षण मशीन | सटीकता वर्ग: | उच्च सटीकता |
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| शुद्धता: | / | आवेदन: | स्वत: परीक्षण |
| अनुकूलित समर्थन: | ओईएम, ओडीएम, ओबीएम | शक्ति: | - |
| संरक्षण वर्ग: | आईपी56 | वोल्टेज: | 220 वी |
| गारंटी: | 1 वर्ष | मापने की सीमा (मिमी): | 0-180 |
| संकेत सीमा: | ± 0.02 मिमी | मशीन वजन: | 30 किलोग्राम |
| मापने का बल: | 0.02μM | ||
| प्रमुखता देना: | सटीक ऑप्टिकल गेज माइक्रोमीटर,प्रयोगशाला ऑप्टिकल प्रोजेक्शन उपकरण,प्रयोगशाला के लिए ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज |
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परिशुद्धता ऑप्टिकल गेज प्रोजेक्शन ऑप्टिकल इंस्ट्रूमेंट प्रयोगशाला ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज
उत्पाद का वर्णन
एक प्रक्षेपण ऑप्टिकल गेज एक सटीक ऑप्टिकल यांत्रिक लंबाई माप उपकरण है।यह मापा जा रहा भाग के साथ एक मानक गेज ब्लॉक की तुलना करके एक भाग के बाहरी आकार के सूक्ष्म अंतर आयामों को मापता हैयह कारखाने के मापन कक्षों, कार्यशालाओं के कैलिब्रेशन स्टेशनों, या गेज, उपकरण और सटीक भागों की कार्यशालाओं में आमतौर पर उपयोग किया जाने वाला सटीक उपकरण है।यह गेज ब्लॉक और उच्च परिशुद्धता बेलनाकार गेज ब्लॉक कैलिब्रेट कर सकते हैं, और बेलनाकार और गोलाकार वर्कपीस के व्यास, नमूना वर्कपीस की मोटाई, और बाहरी धागे के पिच व्यास की तुलना कर सकते हैं।
विशेषताएं
इसमें वैक्स स्क्रीन तकनीक और एक संलग्न रीडिंग लूप का उपयोग किया गया है, जो समान चमक और स्पष्ट छवि गुणवत्ता प्रदान करता है।
यह सीसीडी डिजिटल इमेज प्रोसेसिंग तकनीक का उपयोग करता है, जो उच्च रिज़ॉल्यूशन के साथ डिजिटल रूप में माप मानों को सीधे प्रदर्शित करता है।
यह उपकरण उच्च माप सटीकता, स्थिर और विश्वसनीय डेटा प्रदान करता है और छोटे सटीक भागों का निरीक्षण करने के लिए सुविधाजनक और त्वरित है।
इसका कॉम्पैक्ट डिजाइन और छोटे आयाम इसे परिवहन करने में आसान बनाते हैं।
उपकरण परिचालन वातावरणः
कमरे का तापमानः 20°C ± 0.5°C, सापेक्ष आर्द्रता 60% से अधिक नहीं होनी चाहिए
कार्यबेंच
सात-रिब वर्कबेंचः मोटी गेज ब्लॉक और वर्कपीस के कैलिब्रेशन के लिए
बॉल-रिब वर्कबेंच: पतले गेज ब्लॉक और वर्कपीस के कैलिब्रेशन के लिए
गेज ब्लॉक परिवहन रैकः मानक और गेज ब्लॉक रखने और ले जाने के लिए
चिकनी सतह वाली कार्यबेंच: गोले के व्यास को मापने के लिए
परिशुद्धता ऑप्टिकल गेज प्रोजेक्शन ऑप्टिकल इंस्ट्रूमेंट प्रयोगशाला ऑप्टिकल माइक्रोमीटर गेज
तकनीकी विनिर्देश
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नाम |
LR-A417 |
LR-A417F |
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माप सीमा (मिमी) |
0-180 |
0-180 |
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संकल्प |
0.2μm |
0.02μm |
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संकेत सीमा |
±0.02 मिमी |
±0.02 मिमी |
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संकेत त्रुटि |
± ((0.05+0.0025A) μm |
(0.05 + 0.0025A) μm |
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संकेत की दोहरावशीलता |
A, μm में दर्शाया गया मान है |
A, μm में दर्शाया गया मान है |
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माप बल |
0.02μm |
0.02μm |
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माप शाफ्ट और जांच टोपी के आंतरिक व्यास |
1.20N±0.2N |
1.20N ±0.2N |
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समानांतर बाहरी व्यास |
φ6g6 |
φ6g6 |
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जांच टोपी के आंतरिक व्यास से मेल खाता है |
φ6H7 |
φ6H7 |
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उपकरण का भार |
30 किलो |
30 किलो |
व्यक्ति से संपर्क करें: Kaitlyn Wang
दूरभाष: 19376687282
फैक्स: 86-769-83078748
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