|
Λεπτομέρειες:
|
| Μοντέλο: | Al-NP-7010 | Εγγύηση: | 1 έτος |
|---|---|---|---|
| Τροχοφόρα τάση: | 5-50KV | ρεύμα σωλήνα: | 1-1000UA |
| Σταθερότητα: | 0,05% | Εισαγωγή: | 85 ~ 265VAC, 47 ~ 63Hz |
| Επισημαίνω: | Χρονομετρητής πάχους επικάλυψης μετάλλου XRF,αναλυτής μετάλλων στοιχείων XRF,αναλυτής XRF με εγγύηση |
||
Το όργανο μέτρησης πάχους επικάλυψης φθορισμού ακτίνων Χ υιοθετεί την τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς ενέργειας και μπορεί ταυτόχρονα να μετρήσει την ανάλυση πολλαπλών στοιχείων. Σύμφωνα με τις απαιτήσεις εφαρμογής του χρήστη, μπορεί να ρυθμιστεί ώστε να αναλύει και να προσδιορίζει οποιονδήποτε αριθμό στοιχείων από Na έως U. Επιπλέον, είναι εξοπλισμένο με ένα πλήρως λειτουργικό λογισμικό δοκιμών και μια φιλική προς το χρήστη διεπαφή λειτουργίας για την κάλυψη των αναγκών μεταλλικής επίστρωσης και μέτρησης περιεκτικότητας στοιχείων. Ο εξανθρωπισμένος σχεδιασμός καθιστά ευκολότερη την ολοκλήρωση των εργασιών δοκιμών. Αυτό το όργανο έχει δύο λειτουργίες: μέτρηση περιεκτικότητας στοιχείων και ανίχνευση πάχους επίστρωσης.
Χρησιμοποιείται ευρέως στη μέτρηση πάχους μεταλλικών επικαλύψεων, στον προσδιορισμό των διαλυμάτων ηλεκτρολυτικής επιμετάλλωσης και των περιεχομένων επίστρωσης στην ηλεκτρολυτική επιμετάλλωση, καθώς και στις βιομηχανίες υλικού, PCB, μπάνιου, ηλεκτρονικών συσκευών, πολύτιμων μετάλλων κ.λπ.
Χαρακτηριστικά
1.Αυτόματο σύστημα μετατροπής φίλτρων
Σύστημα αυτόματης μεταγωγής φίλτρων: 6 τύποι φίλτρων επιλέγονται και εναλλάσσονται αυτόματα (Λειτουργία φίλτρου: Βελτιώνει τη φασματική σύνθεση της φασματικής γραμμής της πηγής διέγερσης, κατά τη διεξαγωγή ανάλυσης πολλαπλών στοιχείων, χρησιμοποιείται για την καταστολή του ισχυρού φθορισμού ακτίνων Χ εξαρτημάτων υψηλής περιεκτικότητας, βελτιώνοντας έτσι την αναλυόμενη ακρίβεια μέτρησης των στοιχείων).
2.Σύστημα ακτινοπροστασίας ασφαλείας
ένα.Ο επανασχεδιασμένος σωλήνας ακτίνων Χ χαμηλής ακτινοβολίας έχει υποστεί ειδική επεξεργασία (ξεκινώντας από την πηγή)
σι.Πλήρως κλειστή πλάκα μολύβδου διπλής στρώσης ακτινοπροστασίας (ξεκινώντας από τη δομή σχεδιασμού)
ντο.Πλήρως αυτόματη συσκευή οπτικής θωράκισης φίλτρου μολύβδου
ρε.Το κάλυμμα του δείγματος άνοιξε κατά λάθος, προκαλώντας την ενεργοποίηση της συσκευής αναγκαστικής διακοπής ακτίνων Χ.
μι.Δοκιμή καθυστέρησης και σύστημα προειδοποίησης ακτίνων Χ
3.Ισχυρός σταθμός εργασίας λογισμικού ανάλυσης
ένα.Ένα λογισμικό λειτουργίας all-in-one, εύκολο στη χρήση και που δεν απαιτεί επαγγελματικές γνώσεις.
σι.Εξανθρωπισμένη διεπαφή ανθρώπου-υπολογιστή
c. Διάφορες παράμετροι δοκιμής δεν χρειάζεται να οριστούν από τους χειριστές, με ισχυρή προσαρμοσμένη λειτουργία αναφοράς.
ρε.Τα δεδομένα δοκιμής αποθηκεύονται αυτόματα και έχουν μια συνάρτηση ιστορικού ερωτήματος.
μι.Οι πιο προηγμένες μέθοδοι ποιοτικής και ποσοτικής ανάλυσης.
φά.Μπορεί να αναλύσει ταυτόχρονα δεκάδες στοιχεία.
σολ.Η ανάλυση στοιχείων είναι γρήγορη και ο χρόνος ανάλυσης μπορεί να ρυθμιστεί από 30 δευτερόλεπτα έως 900 δευτερόλεπτα.
h.Μειώστε αυτόματα την τάση και το ρεύμα του σωλήνα όταν δεν χρησιμοποιείται για μεγάλο χρονικό διάστημα για να παρατείνετε τη διάρκεια ζωής του σωλήνα ακτίνων Χ.
εγώ.Ελέγξτε τη θερμοκρασία του σωλήνα ακτίνων Χ για να τον προστατέψετε και να παρατείνετε τη διάρκεια ζωής του.
ι.Παρακολούθηση σε πραγματικό χρόνο της κατάστασης λειτουργίας του οργάνου, διευκολύνοντας την εύκολη συντήρηση του οργάνου.
κ.Για να αποφευχθεί το τυχαίο άνοιγμα του καλύμματος του δείγματος κατά τη διάρκεια της δοκιμής, το λογισμικό παρέχει μια προειδοποίηση λειτουργίας και ταυτόχρονα διακόπτει την παροχή ρεύματος υψηλής τάσης.
4.Τύποι ανάλυσης δείγματος
Μπορεί να ανιχνεύσει άμεσα στερεά, υγρά και σκόνες, χωρίς να χρειάζεται πολύπλοκες διαδικασίες προετοιμασίας δειγμάτων. Τα δείγματα μπορούν να αναλυθούν άμεσα και μη καταστροφικά.
5.Επαγγελματική μέτρηση πάχους επίστρωσης
Μπορεί να αναλύσει μεμονωμένες επιστρώσεις, πολλαπλές επιστρώσεις καθώς και επιστρώσεις κραμάτων.
Μέθοδοι ανάλυσης με πολλαπλές επικαλύψεις.
Πάχος ανάλυσης: Γενικά 0,05 - 50 microns (το πάχος ποικίλλει για διαφορετικά στοιχεία).
Τεχνικές Παράμετροι
|
Ανιχνευτής FAST SDD |
- Η ανάλυση του ανιχνευτή είναι ένας από τους βασικούς δείκτες για την αξιολόγηση της απόδοσης των φασματόμετρων φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς ενέργειας. |
|
Σωλήνας ακτίνων Χ |
- Υλικό στόχου: Ρόδιο (Rh) ή Βολφράμιο (W) |
|
Πολυκαναλικός αναλυτής ύψους παλμών (συνήθως αναφέρεται ως ενεργειακή βαθμονόμηση φασματόμετρου) |
- Αριθμός καναλιών: 2048 κανάλια |
|
Ελεγκτής τροφοδοτικού |
- Έλεγχος ισχύος συστήματος: +5 VDC στα 250 mA (1,2 W) |
|
Γεννήτρια ακτίνων Χ με μικρό πλευρικό παράθυρο χαμηλής ισχύος (κοινώς ονομάζεται σωλήνας ακτίνων Χ) |
- Ο σωλήνας ακτίνων Χ, ειδικά επεξεργασμένος με εσωτερική ενσωμάτωση μολύβδου, είναι πλήρως θωρακισμένος, ενώ απομένει μόνο η περιοχή εξόδου ακτίνων Χ στο πλευρικό παράθυρο. |
|
Γεννήτρια υψηλής τάσης |
- Είσοδος: 85~265Vac, 47~63Hz, με διόρθωση συντελεστή ισχύος. |
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Kaitlyn Wang
Τηλ.:: 19376687282
Φαξ: 86-769-83078748