|
Λεπτομέρειες:
|
| Ακριβότητα μεγέθους δειγματοληψίας: | Λάθος ≤ 0,1 mm | Διαστάσεις: | Μήκος × Πλάτος × Ύψος 350 × 100 × 130 mm |
|---|---|---|---|
| Βάρος: | Περίπου 9 kg | Δείγμα δοκιμής ακαμψίας σανίδας: | 70×38 mm |
| Επισημαίνω: | Ελεγκτής ακαμψίας χαρτονιού ISO 2493,μηχάνημα αντοχής σε εφελκυσμό χαρτονιού,εξοπλισμός δοκιμής ακαμψίας με πτυχώσεις υφασμάτων |
||
ISO 2493 5628 Μηχάνημα δοκιμής ακαμψίας τσακίσματος χαρτονιού από χαρτόνι Ελεγκτής αντοχής εφελκυσμού χαρτονιού
Εισαγωγή
Ο ελεγκτής ακαμψίας πτυχώσεων χαρτιού και χαρτονιού χρησιμοποιείται για τη μέτρηση της ακαμψίας κάμψης διαφόρων τύπων χαρτιού, χαρτονιού, μεμβρανών, πλαστικών, μεταλλικών φύλλων και άλλων σύνθετων υλικών που μοιάζουν με φύλλα. Ισχύει για τις βιομηχανίες χαρτοποιίας, συσκευασίας, εκτύπωσης, καθώς και σχετικά ερευνητικά ιδρύματα και τμήματα ποιοτικού ελέγχου.
Δοκιμή αντοχής σε εφελκυσμό: Ισχύει για τη δοκιμή της αντοχής σε κάμψη χαρτιού, χαρτονιού, φιλμ, πλαστικής μεμβράνης και λεπτών φύλλων.
Δοκιμή ακαμψίας πτυχώσεων: Ισχύει για τη δοκιμή της ακαμψίας της εσοχής τσάκισης διαφόρων κουτιών συσκευασίας, όπως κουτιά χρώματος και κουτιά οδοντόκρεμας.
Συμβατό με τα πρότυπα
GB/T 22364, GB/T 2679.3 "Δοκιμή για εφελκυστικές ιδιότητες χαρτιού και χαρτονιού", ISO 2493 "Προσδιορισμός των ιδιοτήτων εφελκυσμού χαρτιού και χαρτονιού", ISO 5628 "Ιδιότητες εφελκυσμού στατικής κάμψης χαρτιού και χαρτονιού - Γενικές αρχές"
Τεχνικές παράμετροι συσκευής δειγματοληψίας
|
Μέγεθος δειγματοληψίας (Δείγμα αντοχής σε εφελκυσμό από χαρτόνι) |
70 × 38 ± 0,1 mm |
|
Μέγεθος δειγματοληψίας (Δείγμα δοκιμής αντίστασης ρυτίδων) |
38 × 36 mm |
|
Ακρίβεια μεγέθους δειγματοληψίας |
Σφάλμα ≤ 0,1 mm |
|
Περιβαλλοντικές συνθήκες |
Θερμοκρασία: 20 - 40℃; Σχετική υγρασία: < 85% |
|
Διαστάσεις |
Μήκος × Πλάτος × Ύψος = 350 × 100 × 130 mm |
|
Βάρος |
Περίπου 9 κιλά |
Τεχνική Προδιαγραφή
|
Εύρος δύναμης κάμψης |
15 - 10000 mN; Ανάλυση: 0,1 mN |
|
Μήκος κάμψης |
50 ± 0,1 mm, 25 ± 0,1 mm, 10 ± 0,1 mm, κ.λπ. |
|
Γωνία κάμψης |
1 - 92°, ρυθμιζόμενο σε οποιοδήποτε βαθμό |
|
Ρυθμός κάμψης |
200° ± 20° ανά λεπτό (ρυθμιζόμενο) |
|
Χρόνος κάμψης |
2 έως 50 δευτερόλεπτα |
|
Δείγμα δοκιμής ακαμψίας πτυχώσεων |
38×36 χλστ |
|
Δείγμα δοκιμής ακαμψίας σανίδας |
70×38 χλστ |
|
Μέτρηση πάχους |
0,01 έως 5,0 mm |
|
Πάχος δειγματοληψίας |
0,1 - 1,5 χλστ |
|
Παραλληλισμός των δύο μακρών πλευρών |
≤ 0,015 χλστ |
Υπεύθυνος Επικοινωνίας: Ms. Kaitlyn Wang
Τηλ.:: 19376687282
Φαξ: 86-769-83078748