DM8116 MWDXRF Μικροαναλυτής θείου Αυτολειτουργικό θερομετρητή βόμβας οξυγόνου Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF Αναλυτής XRF

DM8116 MWDXRF Micro Sulphur Analyzer Αυτολειτουργούμενος θερμιδομετρητής βόμβας οξυγόνου

ρεμιscript:

Ο αναλυτής μικροθείου διασποράς ακτίνων Χ φθορισμού μονοχρωματικού μήκους κύματος διέγερσης DM8116, που συντομογραφείται ως αναλυτής μικροθείου DM8116 MWDXRF, είναι ο πρώτος φασματόμετρο μονόχρωμης διέγερσης XRF από σημείο σε σημείο που αναπτύχθηκε από την εταιρεία μας με βάση τις υπάρχουσες δεκαετίες ερευνητικής εμπειρίας ακτίνων X και φθορισμού ακτίνων της εταιρείας. Αναλυτές θείου φθορισμού ακτίνων Χ σειράς DM, αναλυτές πολλαπλών στοιχείων φθορισμού ακτίνων Χ και φασματόμετρα πολλαπλών καναλιών φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς μήκους κύματος. Υιοθετεί τις ακόλουθες τεχνολογίες και εξαρτήματα, κάνοντας το DM8116 με σωλήνα ακτίνων Χ 50W να έχει εξαιρετική αναπαραγωγιμότητα και σταθερότητα, καθώς και χαμηλό όριο ανίχνευσης, ανεβάζοντας αποτελεσματικά το επίπεδο ανίχνευσης σε νέο ύψος.

Τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς μονοχρωματικού μήκους κύματος διέγερσης από σημείο σε σημείο (MWDXRF)

Το όριο ανίχνευσης (LOD) ενός φασματόμετρου φθορισμού ακτίνων Χ αναφέρεται στην αντίστοιχη ποσότητα τριπλάσια της τυπικής απόκλισης του σήματος φόντου του οργάνου που παράγεται από το κενό μήτρας, δηλαδή:

(1)Στον τύπο, το Rb αντιπροσωπεύει την ένταση μέτρησης φόντου (φόντο), το N είναι η ένταση μέτρησης του δείγματος χαμηλής συγκέντρωσης με γνωστή συγκέντρωση C και το T είναι ο χρόνος μέτρησης. Από την εξίσωση (1), μπορεί να φανεί ότι το όριο ανίχνευσης είναι αντιστρόφως ανάλογο με την ευαισθησία (N - Rb) / C και ευθέως ανάλογο με την τετραγωνική ρίζα του υποβάθρου Rb. Υπό την προϋπόθεση ενός σταθερού χρόνου μέτρησης, για να μειωθεί το όριο ανίχνευσης, είναι απαραίτητο να αυξηθεί η ευαισθησία ή/και να μειωθεί το φόντο.

Πληρείτε τις απαιτήσεις για ανίχνευση εξαιρετικά χαμηλής περιεκτικότητας σε θείο της βενζίνης και του ντίζελ αυτοκινήτων, όπως ορίζεται στα Εθνικά πρότυπα V και Εθνικά VI.

Χαμηλό όριο ανίχνευσης (300s): 0,33 μέρη ανά εκατομμύριο.

Το DM8116 υιοθετεί την τεχνολογία ανάλυσης φθορισμού ακτίνων Χ διασποράς μήκους κύματος διέγερσης από σημείο σε σημείο με εστίαση ενός χρώματος (Monochromatic Excitation Beam Dispersive Ray X-Ray Fluorescence). Αυτό σημαίνει ότι στην οπτική διαδρομή διέγερσης, χρησιμοποιείται μια οπτική συσκευή εστιασμένη από σημείο σε σημείο για τον μονοχρωματισμό του φάσματος εκπομπής από το σωλήνα ακτίνων Χ, μειώνοντας έτσι το υπόβαθρο συνεχούς σκέδασης του φάσματος φθορισμού δείγματος. Ταυτόχρονα, επιτυγχάνεται τρισδιάστατη εστίαση για την αύξηση της έντασης των μονόχρωμων γραμμών ή των στενών ενεργειακών ζωνών των απαιτούμενων ακτίνων Χ διέγερσης, βελτιώνοντας έτσι την ευαισθησία. Στην οπτική διαδρομή ανίχνευσης, χρησιμοποιείται μια άλλη οπτική συσκευή εστιασμένη από σημείο σε σημείο για τη διασπορά του φάσματος φθορισμού για ανίχνευση υψηλής ανάλυσης. Ταυτόχρονα, επιτυγχάνεται τρισδιάστατη εστίαση για να αυξηθεί η ένταση των χαρακτηριστικών γραμμών φθορισμού του δείγματος που απαιτούνται για τη συλλογή, βελτιώνοντας έτσι την ευαισθησία. Ως αποτέλεσμα, το όριο ανίχνευσης μειώνεται σημαντικά. Σε σύγκριση με το παραδοσιακό EDXRF, μειώνεται κατά 1 έως 2 τάξεις μεγέθους. Σε σύγκριση με το παραδοσιακό WDXRF υψηλής ισχύος (όπως 4kw), είναι επίσης πολύ χαμηλότερο.

Υιοθετώ

Τεχνολογία ανάλυσης μονοχρωματικού μήκους κύματος διασποράς ακτίνων Χ φθορισμού (MWDXRF)

τεχνητός κρύσταλλος λογαριθμικός σπειροειδής διπλός καμπύλος κωνικός (LSDCC) υψηλής απόδοσης περίθλασης

Ένας λεπτός σωλήνας ακτίνων Χ παραθύρου βηρυλλίου μικροεστίασης με λογικό συνδυασμό kV, mA και υλικού στόχου.

Πρότυπο

GB/T 11140

ISO20884

SH/T 0842

ASTM D2622

ASTM D7039

ASTM D7220

Τεχνικές Παράμετροι